СТ СЭВ 1622-79 Полуприборы полупроводниковые и микросхемы интегральные. Общие требования к измерениям электрических параметров
Статус: Информация о статусе доступна в коммерческой версии NormaCS Сканкопия официального издания документа: присутствует в коммерческой версии NormaCS Утвержден: ПКС; Постоянная Комиссия по сотрудничеству в области стандартизации СЭВ, 01.06.1979 Обозначение: СТ СЭВ 1622-79 Наименование: Полуприборы полупроводниковые и микросхемы интегральные. Общие требования к измерениям электрических параметров Дополнительные сведения: доступны через сетевой клиент NormaCS. После установки нажмите на иконку рядом с названием документа для его открытия в NormaCS
Пожалуйста, дождитесь загрузки страницы... На документ ссылаются:
Показать легенду
ГОСТ 18604.0-83 - Транзисторы биполярные. Общие требования при измерении электрических параметров ГОСТ 18683.0-83 - Микросхемы интегральные цифровые. Общие требования при измерении электрических параметров ГОСТ 18986.0-74 - Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения ГОСТ 19138.0-85 - Тиристоры. Общие требования к методам измерения параметров ГОСТ 19656.0-74 - Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения электрических параметров. Общие положения ГОСТ 20398.0-83 - Транзисторы полевые. Общие требования при измерении электрических параметров ГОСТ 23089.0-78 - Микросхемы интегральные. Общие требования при измерении электрических параметров операционных усилителей и компараторов напряжения ГОСТ 24613.0-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров ГОСТ 26949-86 - Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения
Наш сайт использует cookies - небольшие фрагменты данных, хранимые на компьютере пользователя.
Оставаясь на сайте, вы соглашаетесь на использование cookies.
Вы можете заблокировать cookies в настройках вашего браузера.